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发布时间: 2020 - 01 - 16

飞纳中国——复纳科学仪器(上海)有限公司

日期: 2020-01-06
浏览次数: 374

飞纳中国——复纳科学仪器(上海)有限公司

公司名:飞纳中国——复纳科学仪器(上海)有限公司

Phenom Scientific Instrument (Shanghai) Co., Ltd.

展位号:B100


优质产品

01 

飞纳台式场发射扫描电镜

Phenom LE

飞纳中国——复纳科学仪器(上海)有限公司


秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、完全防震、性能稳定的特点,历时 6 年研发,2018 年, 荷兰飞纳公司推出采用肖特基场发射电子源,集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体的台式场发射扫描电镜能谱一体 机 Phenom LE。高亮度肖特基场发射电子源,采用肖特基场发射电子枪,分辨率优于 2.5nm,放大倍数 500,000x,使用户可以轻松获得高分辨率图像。Phenom LE 低电压成像优势明显,可减轻电子束 对样品的损伤和穿透,最大程度还原样品真实形貌。

After 6 year's designing and endless rounds of testing processes, Phenom brings the world's first desktop FEG - Phenom LE to Chinese users in 2018. Being fully equipped with BSD, SED, and EDS detectors in one single desktop model. Phenom LE uses Schottky field emitter as its source this time, making desktop SEM device enter a new era where resolution goes below 2.5 nm, while magnification rockets to 500,000X.


02 

飞纳台式扫描电镜能谱一体机

Phenom ProX


飞纳中国——复纳科学仪器(上海)有限公司

飞纳台式扫描电镜 (Desktop SEM) Phenom ProX 是终极的电镜能谱一体机,集扫描电镜成像与能谱元素分析为一体。

使用 Phenom ProX 电镜能谱一体机,既可以观察样品的形貌,同时又能进行元素的定性和定量分析。除了元素的点分析,元素的线面 扫功能可以进一步分析元素的分布情况。

The Phenom ProX scanning electron microscope (SEM) is based on the 5th generation Phenom desktop SEM platform and is a high-performance SEM for imaging and analysis. With the Phenom ProX desktop SEM, sample structures can be physically examined and their elemental composition determined. Besides point analysis, the optional Elemental Mapping and Line Scan software allows further analysis of the distribution of elements.


03 

飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版

Phenom XL


飞纳中国——复纳科学仪器(上海)有限公司

大样品室卓越版 Phenom XL 进一步拓展了紧凑型台式电镜的性能极限。Phenom XL 也具备飞纳电镜系列简单易用、快速成像的两大 特点。此外,它配备了超大的样品腔室,可以观察分析最大样品尺寸为 100 mm x 100 mm 的样品。专利设计的放气 / 样品加载可以 实现全世界最快的放气 / 加载流程,获得最大的样品吞吐量。全新开发的紧凑型马达台确保用户可以观察到整个样品区域。即使如此, 飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL 仍是一款占用空间极小、无需额外设备的台式电镜。一次拍照即可获得整个视野的光学导航图, 用户只需点击一下鼠标,即可在数秒内移动到样品上的任意位置,这进一步提升了 PhenomXL 的简单易用性。

The Phenom XL scanning electron microscope (SEM) pushes the boundaries of desktop SEM performance. It features the proven ease of use and fast time to image of any Phenom system. It is also equipped with a chamber that allows analysis of large samples up to 100 mm x 100 mm. A proprietary venting / loading mechanism ensures the fastest vent/load cycle in the world, providing the highest throughput. A newly developed compact motorized stage enables the user to scan the full sample area, and yet the Phenom XL is a desktop SEM that needs little space and no extra facilities. Ease of use is given an extra boost in the Phenom XL with a single shot optical navigation camera that allows the user to move to any spot on the sample with just a single click – within seconds.


飞纳中国——复纳科学仪器(上海)有限公司

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